p-CuPc organik yarıiletken ince filmlerin a-Si altlıklar üzerine kimyasal sprey püskürtme tekniği ile büyütülmesi ve elektriksel ve optik özelliklerinin incelenmesi

dc.contributor.authorDemiroğlu, Dilek
dc.date.accessioned2017-05-09T08:43:51Z
dc.date.available2017-05-09T08:43:51Z
dc.date.issued2012
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
dc.description.abstractSon yıllarda organik yarıiletken malzemelerdeki gelişmelere paralel olarak bunların opto-elektronik teknolojisindeki kullanımı da artmıştır. Elektronik teknolojisinin temel taşı olan silisyuma uyumlulukları, düşük maliyetli olması ve kolayca uygulanabilmesi sayesinde organik malzemeler oldukça dikkat çekici özelliklere sahiptirler. Bu doğrultuda, bu çalışmada organik-inorganik hibrid heteroeklem yapılması amaçlanmış ve heteroeklemin organik kısmı p-CuPc organik yarıiletken, inorganik kısmı için ise a-Si kullanılmıştır. Bu amaç doğrultusunda öncelikle p-CuPc organik yarıiletkenine altlık olarak kullanılacak olan düz ve eğik a-Si ince filmler, n-Si(100), p-Si(111) ve ITO altlıklar üzerine yüksek vakum elektron demeti buharlaştırma sistemi ile büyütülmüştür. Hazırlanan a-Si ince filmlerin yapısal ve yüzeysel özellikleri XRD, Raman ve FEG-SEM analizleriyle ayrıntılı olarak incelenmiştir. Düz ve eğik a-Si ince filmlerin heteroeklem yapısına getireceği katkıyı ve p-CuPc organik yarıiletkeni ile uyumunu incelemek amacı ile; elektriksel özellikleri ve fotoduyarlılıkları, UV-VIS-NIR spektrofotometre ile optik özellikleri belirlenmiştir. p-CuPc organik yarıiletkeni a-Si altlıklar üzerine kimyasal sprey püskürtme tekniği ile büyütüleceğinden bu altlıkların temas açısı tayinleri ve hidrofilik/hidrofobik özellikleri optik gonyometre kullanılarak belirlenmiştir. Bir sonraki adımda ise p-CuPc organik yarıiletkeni düz ve eğik a-Si altlıklar üzerine atmosferik ortamda kimyasal sprey püskürtme tekniği kullanılarak büyütülmüştür. Böylece düz ve eğik a-Si katmanlara sahip p-CuPc/a-Si/c-Si, p-CuPc/a-Si/ITO organik-inorganik hibrid heteroeklemleri elde edilmiştir. Kimyasal sprey püskürtme tekniği kolay uygulanabilir ve düşük maliyetli bir tekniktir ve ilk defa bu çalışmada organik yarıiletken malzemenin a-Si altlıklar üzerine büyütülmesi amacı ile kullanılmıştır. p-CuPc ince filminin yapısal ve yüzeysel analizleri için XRD, Raman ve SEM analizleri ile detayli incelemesi yapılmıştır. Hibrid heteroeklemlerin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi için akım-gerilim ölçümleri alınmıştır.
dc.description.abstractIn recent years organic semiconductor (OSC?s) materials have a significant role in optoelectronic industry. Organic semiconductırs have attractivefeatures of compatible with silicon, low costs and easily applied materials. İn this manner, this investigation refers to produce an organic-inorganic hybrid heterojunction to formed with p-CuCp as organic part and a-Si as inorganic part. Fort hat purpose, smooth and slanted a-Si thin films were deposited onto n-Si(100),p-Si(111) and ITO glass substrates via ultra high vacuum electron beam deposition technique, for using p-CuPc organic semiconductors substrate.We were investigated morphological and structural features with XRD, Raman and SEM analysis. For determininh the a-Si contribution on hybrid-heterojunction?s structure and compatible with p-CuPc organic semiconductor, electrical features and photosensitivity of a-Si/c-Si and a-Si/ITO were investigated. Optical properties were determined by UV-VİS-NIR spechtrofotometer. The wettability features and contanct angles were determined by optical goniometer because of the p-CuPc organic semiconductor deposited on a-Si subtrates via chemical spray pyrolsis technique. At the next step, p-CuPc thin films were deposited onto a-Si/c-Si heterojunctions via chemical spray pyrolsis technique at atmospheric conditions. So we produce p-CuPc/a-Si/c-Si, p-CuPc/a-Si/ITO organic- inorganic heterojunctions. The chemical spray pyrolsis technique is a low cost technique as applied easily, and in the first time by using us to deposite organic semiconductor material onto a-Si substrates. Morphological and structural analysis were determined with XRD, Raman and SEM analysis. Electrical measurements were determined under dark and illumination conditions.
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.11776/849
dc.language.isotr
dc.publisherNamık Kemal Üniversitesi
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectBakır Ftalosiyanin
dc.subjectŞekilli İnce Film
dc.subjectKimyasal Sprey Püskürtme
dc.subjectYapısal ve Morfolojik Özellikler
dc.subjectElektrıksel ve Optik Ölçüm
dc.subjectCopper phthyalocyanine
dc.subjectSculptured Thin Films
dc.subjectChemical Spray Pyrolsis technique
dc.subjectStructural and Morphological Analysis
dc.subjectElectrical and Optical Measurements
dc.titlep-CuPc organik yarıiletken ince filmlerin a-Si altlıklar üzerine kimyasal sprey püskürtme tekniği ile büyütülmesi ve elektriksel ve optik özelliklerinin incelenmesi
dc.title.alternativeInvestigation of electrical and optical properties of p-CuPc organic semiconductor thin films growth onto a-Si subtrates via the chemical spray pyrolsis technique
dc.typeMaster Thesis

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
0040434.pdf
Boyut:
7.69 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim Yok
İsim:
license.txt
Boyut:
1.55 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama: