Al KATKILI CdMnO SEYRELTİK MANYETİK YARIİLETKENİN MANYETİK, YAPISAL, YÜZEYSEL ve OPTİK ÖZELLİKLERİNİN İNCELENMESİ

dc.contributor.authorAydın, Mehmet
dc.date.accessioned2017-05-16T07:09:37Z
dc.date.available2017-05-16T07:09:37Z
dc.date.issued2014
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
dc.description.abstractSeyreltik manyetik yarıiletkenler (DMS) manyetik olmayan atomların bir kısmının manyetik atomlarla yer değiştirmesiyle oluşur. Bu amaçla birçok yarıiletkene manyetik atomlar katkılanmış ve manyetiklik özellikleri incelenmiştir. Bu çalışmada sol-gel yöntemiyle hazırlanan Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) seyreltik manyetik yarıiletkeninin manyetik, yapısal, yüzeysel ve optik özellikleri incelenmiştir. Elde edilen örneklerin manyetiklik özellikleri titreşimli örnek manyetometresi (VSM) kullanılarak ölçülmüştür. Yapısal özellikleri X-ışınımı toz kırınımı (XRD) kullanılarak ölçülmüş ve kristal örgü yapıları saptanmıştır. Yüzeysel özellikleri taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılarak ölçülmüş ve örneklerin yüzey analizleri yapılmıştır. Optik özellikleri UV-görünür spektrofotometresi (UV) kullanılarak ölçülmüştür.
dc.description.abstractDilute magnetic semiconductors (DMS) with the nonmagnetic atoms by replacing of part of the magnetic atoms occurs. For this purpose, magnetic atoms doped many semiconductor and magnetics properties were investigated. In this thesis, prepared by sol-gel method Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) of the dilute magnetic semiconductors, magnetic, structural, surface and optical properties were investigated. Magnetization properties of the samples obtained was measured by vibrating sample magnetometer (VSM). Structural properties was measured by X-ray diffraction and crystal lattice parameter was determined. Surface properties was measured by scanning electron microscope (SEM) and the surface of the samples was analyzed. The optical properties was measured by UV-visible spctrophotometer (UV).
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.11776/1050
dc.language.isotr
dc.publisherNamık Kemal Üniversitesi
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.subjectSeyreltik manyetik yarıiletkenler
dc.subjectSol-gel
dc.subjectX-ışınımı toz kırınımı (XRD)
dc.subjecttaramalı elektron mikroskobu (SEM)
dc.subjecttitreşimli örnek manyetometresi (VSM)
dc.subjectDilute magnetic semiconductors
dc.subjectSol-gel
dc.subjectX-ray diffraction (XRD)
dc.subjectScanning electron microscope (SEM)
dc.subjectUV-visible spctrophotometer (UV)
dc.titleAl KATKILI CdMnO SEYRELTİK MANYETİK YARIİLETKENİN MANYETİK, YAPISAL, YÜZEYSEL ve OPTİK ÖZELLİKLERİNİN İNCELENMESİ
dc.title.alternativeINVESTIGATION OF THE STRUCTURAL, SURFACE, MAGNETIC AND OPTICAL PROPERTIES OF Al-DOPED CdMnO DILUTE MAGNETIC SEMICODUCTORS
dc.typeMaster Thesis

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
0046203.pdf
Boyut:
2.13 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim Yok
İsim:
license.txt
Boyut:
1.55 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama: