Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorAydın, Mehmet
dc.date.accessioned2017-05-16T07:09:37Z
dc.date.available2017-05-16T07:09:37Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.11776/1050
dc.description.abstractSeyreltik manyetik yarıiletkenler (DMS) manyetik olmayan atomların bir kısmının manyetik atomlarla yer değiştirmesiyle oluşur. Bu amaçla birçok yarıiletkene manyetik atomlar katkılanmış ve manyetiklik özellikleri incelenmiştir. Bu çalışmada sol-gel yöntemiyle hazırlanan Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) seyreltik manyetik yarıiletkeninin manyetik, yapısal, yüzeysel ve optik özellikleri incelenmiştir. Elde edilen örneklerin manyetiklik özellikleri titreşimli örnek manyetometresi (VSM) kullanılarak ölçülmüştür. Yapısal özellikleri X-ışınımı toz kırınımı (XRD) kullanılarak ölçülmüş ve kristal örgü yapıları saptanmıştır. Yüzeysel özellikleri taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılarak ölçülmüş ve örneklerin yüzey analizleri yapılmıştır. Optik özellikleri UV-görünür spektrofotometresi (UV) kullanılarak ölçülmüştür.en_US
dc.description.abstractDilute magnetic semiconductors (DMS) with the nonmagnetic atoms by replacing of part of the magnetic atoms occurs. For this purpose, magnetic atoms doped many semiconductor and magnetics properties were investigated. In this thesis, prepared by sol-gel method Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) of the dilute magnetic semiconductors, magnetic, structural, surface and optical properties were investigated. Magnetization properties of the samples obtained was measured by vibrating sample magnetometer (VSM). Structural properties was measured by X-ray diffraction and crystal lattice parameter was determined. Surface properties was measured by scanning electron microscope (SEM) and the surface of the samples was analyzed. The optical properties was measured by UV-visible spctrophotometer (UV).en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherNamık Kemal Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccessen_US
dc.subjectSeyreltik manyetik yarıiletkenleren_US
dc.subjectSol-gelen_US
dc.subjectX-ışınımı toz kırınımı (XRD)en_US
dc.subjecttaramalı elektron mikroskobu (SEM)en_US
dc.subjecttitreşimli örnek manyetometresi (VSM)en_US
dc.subjectDilute magnetic semiconductorsen_US
dc.subjectSol-gelen_US
dc.subjectX-ray diffraction (XRD)en_US
dc.subjectScanning electron microscope (SEM)en_US
dc.subjectUV-visible spctrophotometer (UV)en_US
dc.titleAl KATKILI CdMnO SEYRELTİK MANYETİK YARIİLETKENİN MANYETİK, YAPISAL, YÜZEYSEL ve OPTİK ÖZELLİKLERİNİN İNCELENMESİen_US
dc.title.alternativeINVESTIGATION OF THE STRUCTURAL, SURFACE, MAGNETIC AND OPTICAL PROPERTIES OF Al-DOPED CdMnO DILUTE MAGNETIC SEMICODUCTORSen_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster